CBI Pro-Akademia

Układ do półautomatycznego pomiaru parametru Slit Density Index (SDI) dla próbek bezciśnieniowych

Data dodania: 2025-10-09
Obszar tematyczny: Inżynieria procesowa
Typ: Patenty i zgłoszenia patentowe

Autor/Autorzy

Rafał Majzer

Rafał Majzer

Dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych

View more
Marcin Siedlecki

Marcin Siedlecki

Dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych

View more

Pliki do pobrania / Linki

Newsletter